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电子封装(Electronic Packaging)是将集成电路芯片(IC)进行物理保护、电气连接、散热管理以及与外部系统集成的关键技术环节。它不仅影响芯片的性能、可靠性和寿命,还对成本和小型化具有决定性作用。
下面将从电子封装概论出发,详细介绍两种主流封装形式:引线框架型封装(Leadframe-based Packages)和球栅阵列型封装(Ball Grid Array, BGA)。

电气互连:实现芯片焊盘与外部电路之间的电连接。
机械保护:防止芯片受潮、污染、机械冲击等环境损害。
热管理:有效导出芯片工作时产生的热量。
标准化接口:提供统一的外形尺寸和引脚排列,便于PCB装配。
电子封装通常分为四个层级:
零级封装:芯片制造(如晶圆级处理)。
一级封装(芯片级封装):将裸芯片封装成单个器件(如QFP、BGA)。
二级封装:将封装好的芯片焊接到印刷电路板(PCB)上。
三级封装:整机系统集成(如手机、服务器主板组装)。
高密度:I/O数量增加,引脚间距缩小。
小型化:如CSP(Chip Scale Package)、WLCSP(Wafer Level CSP)。
高性能:低电感、低电阻、良好散热。
低成本与高可靠性:适合大规模量产。

这是一种以金属引线框架(Lead Frame)作为芯片载体和引脚基础的成熟技术。
核心结构:核心是金属引线框架,通常由铜合金制成,兼具高强度(抗拉强度≥600MPa)和高导电/导热性(导电率≥80%IACS)。
连接方式:芯片通过 “引线键合”(Wire Bonding) 用极细的金、铝或铜丝连接到框架内引脚,然后整体被塑料等材料包封。
主要类型:主要有双侧引脚型(如SOP,用于存储器、模拟IC)和四侧引脚型(如QFP,用于微控制器、DSP),以及高密度变体QFN,其底部有散热焊盘,引脚在四周。
工艺与趋势:主要生产方法包括模具冲压(成本低)和化学蚀刻(精度高,可达20-30μm线宽,用于高密度封装)。趋势是向更高强度、更高导电、更薄(≤0.1mm)发展,并拓展至倒装芯片等高端应用。
引线框架是一种由铜合金或铁镍合金冲压/蚀刻而成的金属框架,包含:
芯片焊盘(Die Pad):用于粘接芯片。
引脚(Leads):向外延伸,用于焊接至PCB。
连接筋(Tie Bars):在封装前支撑引脚。
DIP(Dual In-line Package):双列直插,早期常用。
SOP(Small Outline Package):表面贴装,引脚向两侧弯曲。
QFP(Quad Flat Package):四边引脚,高I/O数。
TSOP(Thin Small Outline Package):薄型SOP,用于内存。
TO系列(Transistor Outline):功率器件常用。
芯片粘接(Die Attach)到引线框架焊盘;
引线键合(Wire Bonding)连接芯片焊盘与引脚;
模塑封装(Molding)用环氧树脂包裹芯片和引线;
切筋成型(Trim & Form)分离单颗器件并整形引脚;
测试与打标。
优点:
成本低,工艺成熟;
易于检测与返修;
散热路径直接(通过引线框架)。
缺点:
I/O密度受限(引脚间距通常 ≥0.4mm);
电感较高,高频性能较差;
封装尺寸较大,不适用于高密度应用。

BGA封装是为了解决高密度、多引脚芯片的封装需求而发展起来的先进技术。
主要优势:
高密度:引脚分布在底部整个平面,在相同面积下能提供远超QFP的引脚数。
主要类型:
挑战与应对:主要挑战是焊点检测困难(需X光设备)和热膨胀应力匹配问题。可通过底部填充胶(Underfill)和在PCB设计时考虑热匹配来应对。
BGA封装使用焊球阵列代替传统引脚,焊球分布在封装底部整个区域,通常基于多层有机基板(如BT树脂、ABF)或陶瓷基板。
基板(Substrate):替代引线框架,内含多层布线。
焊球(Solder Balls):直径约0.3–0.75mm,呈阵列排布。
芯片连接:通常采用倒装芯片(Flip Chip)或引线键合。
PBGA(Plastic BGA):有机基板+塑封,成本低,主流类型。
CBGA(Ceramic BGA):陶瓷基板,高可靠性,用于航天/军工。
TBGA(Tape BGA):柔性基板,轻薄。
FC-BGA(Flip Chip BGA):倒装芯片+底部填充,高性能CPU/GPU常用。
芯片与基板连接(Wire Bonding 或 Flip Chip);
底部填充(仅Flip Chip需Underfill);
植球(Solder Ball Attach);
回流焊固化焊球;
分割、测试。
优点:
高I/O密度(焊球可布满整个底面);
电性能优异(短互连、低电感);
热性能好(大面积热传导路径);
封装尺寸小,适合高集成度系统。
缺点:
焊点不可见,返修困难;
对PCB平整度和回流焊工艺要求高;
成本高于引线框架封装(尤其陶瓷BGA);
热膨胀系数(CTE)匹配问题可能导致焊点疲劳。
| 特性 | 引线框架型封装 | BGA封装 |
| I/O密度 | 低(<300引脚) | 高(可达数千焊球) |
| 电性能 | 一般(寄生参数大) | 优异(短互连、低电感) |
| 散热能力 | 中等 | 优良(尤其FC-BGA) |
| 成本 | 低 | 中~高 |
| 可检测/返修性 | 好 | 差(需X光检测) |
| 适用场景 | 消费电子、电源管理等 | 高性能处理器、通信芯片等 |
随着先进封装技术(如2.5D/3D IC、Fan-Out、SiP)的发展,传统引线框架和BGA也在演进:
引线框架:发展出超薄、高散热、多芯片封装(MCM)变种。
BGA:向更细间距(<0.4mm)、嵌入式基板、集成无源器件方向发展。
此外,晶圆级封装(WLP)和系统级封装(SiP)正在模糊传统封装边界,推动电子系统向更高集成度迈进。
水基清洗的工艺和设备配置选择对清洗精密器件尤其重要,一旦选定,就会作为一个长期的使用和运行方式。水基清洗剂必须满足清洗、漂洗、干燥的全工艺流程。
污染物有多种,可归纳为离子型和非离子型两大类。离子型污染物接触到环境中的湿气,通电后发生电化学迁移,形成树枝状结构体,造成低电阻通路,破坏了电路板功能。非离子型污染物可穿透PC B 的绝缘层,在PCB板表层下生长枝晶。除了离子型和非离子型污染物,还有粒状污染物,例如焊料球、焊料槽内的浮点、灰尘、尘埃等,这些污染物会导致焊点质量降低、焊接时焊点拉尖、产生气孔、短路等等多种不良现象。
这么多污染物,到底哪些才是最备受关注的呢?助焊剂或锡膏普遍应用于回流焊和波峰焊工艺中,它们主要由溶剂、润湿剂、树脂、缓蚀剂和活化剂等多种成分,焊后必然存在热改性生成物,这些物质在所有污染物中的占据主导,从产品失效情况来而言,焊后残余物是影响产品质量最主要的影响因素,离子型残留物易引起电迁移使绝缘电阻下降,松香树脂残留物易吸附灰尘或杂质引发接触电阻增大,严重者导致开路失效,因此焊后必须进行严格的清洗,才能保障电路板的质量。
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