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3D-SoC(3D System on Chip)封装技术是通过垂直堆叠芯片并实现高密度互连,将多个集成电路(IC)或芯片集成到一个封装体内,形成类似单片系统级芯片(SoC)的封装结构。这种技术突破了传统2D封装的物理限制,实现了真正的三维集成。

空间利用率提升:Z轴方向堆叠,空间利用率提升10倍以上
性能飞跃:互连长度缩短90%,延迟显著降低
功耗优化:减少信号传输能耗,功耗约为2D封装的0.7倍
异质集成:可混合存储、逻辑、传感器等不同工艺芯片
TSV(Through-Silicon-Via)是3D-SoC封装的关键技术,通过在硅片上刻蚀垂直通孔并填充导电材料,实现芯片间的垂直互连。TSV结构包括绝缘层、阻挡层、种子层和电镀铜柱。
混合键合是目前最先进的3D-SoC互连技术,通过直接键合芯片表面的铜和氧化物,实现更高密度的互连。英特尔Foveros Direct技术将堆叠精度提升至12.5微米,混合键合密度达1.2亿触点/mm²。
除TSV外,3D-SoC封装还采用微凸点(Micro Bump)、铜柱(Cu Pillar)等垂直互连技术,进一步提高系统性能。
DIP封装:早期的双列直插式封装,芯片平铺在基板上
BGA封装:球栅阵列封装,提高引脚密度
WLP封装:晶圆级封装,实现芯片级小型化
MCM(Multi-Chip Module)作为早期高集成度封装的典范,通过将多个未封装的裸片和元器件集成于统一基板,形成单一封装体。MCM分为MCM-L(层压基板)、MCM-D(沉积基板)和MCM-C(陶瓷基板)三类。
代表案例:Intel奔腾Pro的陶瓷多芯片组件,通过双空腔结构集成微处理器与高速缓存芯片。
2.5D封装通过引入硅中介层(Interposer),在上面进行电路设计(RDL),实现两个芯片(如内存和CPU、GPU)的共同封装。代表技术为台积电的CoWoS(Chip on Wafer on Substrate)。
代表应用:NVIDIA GPU通过CoWoS技术集成逻辑芯片与HBM存储器。
3D封装通过TSV技术实现芯片垂直堆叠,代表技术包括:
台积电SoIC:wafer-on-wafer键合技术,采用TSV实现非凸点键合,将不同性质的芯片集成在一起。
英特尔Foveros:采用36μm间距微凸点,Meteor Lake处理器已量产应用。
三星X-Cube:三星7nm EUV工艺配套,通过TCB(热压键合)实现堆叠,手机AP能效提升40%。
典型应用:三星3D V-NAND闪存已实现200层以上堆叠;瑞芯微RK182X系列AI协处理器采用3D堆叠封装技术,逻辑部分与内存芯片堆叠后理论带宽达1TB/s。
当前3D-SoC技术正向更高密度、更小型化、更高性能方向发展:
间距≤10μm:实现系统级密度更高的3D IC
光互连集成:硅光子引擎与3D堆叠结合
原子级键合:低温直接键合(LTDB)技术
4D封装:可重构三维集成电路(DARPA资助项目)
| 技术方案 | 代表公司 | 特点 | 应用领域 |
| CoWoS | 台积电 | 中介层尺寸达~2000mm²,支持12层HBM3堆叠 | AI芯片、GPU |
| Foveros | 英特尔 | 36μm间距微凸点,Meteor Lake处理器量产 | CPU、移动设备 |
| X-Cube | 三星 | 7nm EUV工艺配套,TCB热压键合 | 手机AP、移动SoC |
| SoIC | 台积电 | wafer-on-wafer键合,非凸点结构 | 高端SoC、HPC |
| HBM | SK海力士/三星 | 12层硅通孔堆叠,单颗带宽突破2TB/s | AI算力卡、高性能计算 |
AI算力芯片:3D封装使HBM带宽突破4TB/s(NVIDIA Blackwell),英伟达GB200采用16颗HBM4组成256GB"超级显存池"。
移动设备:手机主板面积缩小60%(iPhone 15 Pro),手机AP能效提升40%。
高性能计算:NVIDIA H100 GPU以4PetaFLOPS算力刷新纪录,CoWoS先进封装技术带来"算力密度革命"。
存储器:三星3D V-NAND闪存实现200层以上堆叠,长江存储232层3D NAND量产。
边缘计算:瑞芯微RK182X系列AI协处理器,理论带宽达1TB/s,每秒可生成超100个Token。
热管理难题:堆叠芯片热密度可达500W/cm²,需要微流体冷却、石墨烯导热层等解决方案
应力变形:TSV加工导致硅片翘曲>50μm,需要应力补偿结构设计
测试复杂度:堆叠后测试覆盖率<85%,需要内建自测试(BIST)架构
制造成本:3D封装工艺复杂,成本较高
技术融合:2.5D与3D技术互补,如英特尔的Co-EMIB(EMIB + Foveros)和台积电的InFO_LSI(UHD FO + LSI)
材料创新:玻璃中介层(PLP技术)替代硅中介层,降低成本并支持更大封装面积
市场增长:2023–2029年2.5D/3D封装市场复合增长率达30.5%,2028年全球3D封装市场规模将达$78B(CAGR 21%)
应用拓展:从AI算力卡扩展到医疗电子(植入式传感器体积减小至1mm³)、5G通信(射频前端与基带芯片垂直集成)等领域
3D-SoC封装技术是突破摩尔定律限制的关键路径,通过垂直堆叠和高密度互连,实现了性能、功耗和尺寸的全面提升。从早期的MCM到如今的3D-SoC,封装技术已从"保护芯片的外壳"进化为"突破性能极限的核心载体"。
正如台积电研发副总余振华所言:"3D封装不是选择,而是必然"。随着AI算力需求每3.5个月翻一番的加速发展,3D-SoC封装技术将成为未来芯片产业发展的核心驱动力,推动半导体行业进入"后摩尔时代"的新纪元。
未来,随着TSV工艺、混合键合技术、热管理方案的持续创新,3D-SoC封装将实现更高密度、更小型化、更高性能的突破,为AI、高性能计算、5G通信、物联网等应用提供更强有力的技术支撑。
水基清洗的工艺和设备配置选择对清洗精密器件尤其重要,一旦选定,就会作为一个长期的使用和运行方式。水基清洗剂必须满足清洗、漂洗、干燥的全工艺流程。
污染物有多种,可归纳为离子型和非离子型两大类。离子型污染物接触到环境中的湿气,通电后发生电化学迁移,形成树枝状结构体,造成低电阻通路,破坏了电路板功能。非离子型污染物可穿透PC B 的绝缘层,在PCB板表层下生长枝晶。除了离子型和非离子型污染物,还有粒状污染物,例如焊料球、焊料槽内的浮点、灰尘、尘埃等,这些污染物会导致焊点质量降低、焊接时焊点拉尖、产生气孔、短路等等多种不良现象。
这么多污染物,到底哪些才是最备受关注的呢?助焊剂或锡膏普遍应用于回流焊和波峰焊工艺中,它们主要由溶剂、润湿剂、树脂、缓蚀剂和活化剂等多种成分,焊后必然存在热改性生成物,这些物质在所有污染物中的占据主导,从产品失效情况来而言,焊后残余物是影响产品质量最主要的影响因素,离子型残留物易引起电迁移使绝缘电阻下降,松香树脂残留物易吸附灰尘或杂质引发接触电阻增大,严重者导致开路失效,因此焊后必须进行严格的清洗,才能保障电路板的质量。
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主营产品包括:集成电路与先进封装清洗材料、电子焊接助焊剂、电子环保清洗设备、电子辅料等。
半导体技术应用节点:FlipChip ;2D/2.5D/3D堆叠集成;COB绑定前清洗;晶圆级封装;高密度SIP焊后清洗;功率电子清洗。